存储器动态老炼试验对提高存储器的使用可靠性有着重要的作用。本文以SRAM器件为例,详细阐述了存储器动态老炼试验方法的研究方案,......

动态老炼试验是元器件可靠性试验中极为重要的过程,通过老炼可以剔除早期失效元器件。本论文简单介绍了老炼试验的重要性、实现方......

CPU、DSP等大功率集成电路在动态老炼试验时,其壳温迅速升高,无法保持在老炼所需规定的温度范围内,致老炼试验不能严格按要求进行......

随着半导体工艺技术的不断提高,CMOS图像传感器在固体传感器中的优势日益彰显,使其应用领域不断拓宽。从日常生活中随处可见的智能......

中央处理器(Central Processing Unit,CPU)、数字信号处理系统(Digital Signal Processing)等大功率集成电路在进行动态老炼试验时......